【產品概述】德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的。Fritsch公司的Analysette22 NeXT大量程納米激光粒度儀-，采用聚焦激光散射、衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。

　　德國飛馳-A-22大量程納米激光粒度儀- 由激光器發出的平行光照射到測量區中的顆粒群時會產生衍射現象，衍射散射光的強度分布被光電探測器捕捉獲取后，將照射光能轉換成相應的電信號，通過相應的算法計算出被測顆粒的平均粒徑以及分布。

　　每臺激光粒度儀都有一個重要的部件，即傅里葉透鏡，它可以將散射的激光會聚到檢測器上。傅里葉透鏡在激光粒度儀中的位置就決定了常規設計和反傅里葉設計的主要差異。

　　常規設計

　　常規設計中，傅里葉透鏡位于檢測器和樣品池之間，一組平行的激光通過傅里葉透鏡。缺點：只能檢測到有限的粒徑范圍，為了改變測量范圍，必須更換鏡頭，并進行精確地校準。而且，對于測量大散射角的小顆粒也是有很大限制的。

　　FRITSCH技術：反傅里葉設計

　　通過將傅里葉透鏡放置在測量單元前，會聚激光束穿過測量單元。散射光直接聚焦在探測器上，不需要額外的光學元件。這種設計現在得到了廣泛的應用，可以設計成-個主探測器來捕捉小的散射角，以測量更大的粒子。對于小粒子的大散射角,需要集成合適的探測器系統進行側向和反向散射。

　　FRITSCH技術：后向散射的簡單測量

　　為了探測直徑小于100nm的粒子，需要測量反向散射光(散射角大于90°)。為此，大量程納米激光粒度儀A-22將檢測器置于測量池較近的位置。同時，一束半導體綠光激光器用于產生正向散射的光源。特別注意的是，背向散射光檢測器可以削弱不良信號，如測量池玻璃反射的影響。

　　大量程納米激光粒度儀-主要技術特點：

　　測量模塊：

　　1. 測量范圍:0.01 -3800 µm。

　　2. 激光：同波長的半導體激光器(綠光，λ=520nm，5mW，壽命高達10000小時)。

　　3. 斜向設計測量池放置位置，能夠獲取更大的散射角，使小顆粒散射光更易捕捉，并有效避免全反射現象對測量結果造成的影響。

　　4. 反傅里葉光路設計，120個真實測量通道。

　　5. 光路系統為自動免維護設計，無可移動、轉動部件，光路系統穩定。

　　6. 背向的散射光反射器能夠加強小顆粒散射光的捕捉，提高極小顆粒的分辨率。

　　大量程納米激光粒度儀的 濕法分散單元的強大優勢：

　　(1)操作簡單

　　(2)緊湊的測量循環回路

　　(3)強力的分散泵

　　(4)幾乎免維護的設計

　　(5)重要色散參數的監測

　　(6)測量和清洗循環系統

　　(7)快速連續的清潔

　　(8)懸浮液體積在150ml和500ml之間的可調

　　(9)可兼容多種有機溶劑作為分散劑

　　(10)單獨的超聲波單元

　　(11)可自由編程

　　德國飛馳生產的A22  NeXT，采用聚焦激光散射、衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。Z低檢測下限可達0.01µm  ，在同類產品中都處于地位。

　　A22  NeXT的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。

　　技術參數：

　　1. 分析方法：激光散射/激光衍射

　　2. 濕法測量范圍：0.01 - 2100 µm

　　3. 測量時間：5-10 s(單一測量時測量值記錄);2 min(整個測量循環)

　　4. 分析樣品回路體積：300-500ml，可調節容積, 可調速徑向泵

　　5. 測量周期：2min

　　6. 光學排列：反傅立葉設計，活動的測量元件(FRITSCH專li)

　　7. 測量通道：120

　　8. 測量結果的重現性：≤0.5%

　　9. 光源：波長532nm 1束、波長940 nm 1束

　　10.雙激光兩束設計：綠光、紅色雙激光測量光束

　　11.傅里葉透鏡：260mm和560mm焦距(綠光或紅外線)

　　12.軟件：采用FRITSCH MaS控制軟件，用于控制，記錄和評估測量結果

　　13.符合ISO13320標準

　　主要特點：

　　1. 可替代以前的緊湊型、微米型、微米型激光粒度儀

　　2. 激光設計: 綠光半導體激光器 (520nm)

　　3. 的曲光系統

　　4. 雙測量位置

　　5. 測量時間10 sec.

　　6. 高效的自動光束測量陣列

　　7. 測量系統和濕法分散系統獨立分開

　　8. 適用于在水相及大多數有機相(例如異丙醇)中使用

　　9. 可調節容積, 通過電腦可實現選擇：300、400、500ml

　　10.測量單元使用 Cardridge-like 設計 -> 易于轉換改變

　　11.可調節的超聲波探頭

　　12.無須使用攪拌器